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數(shù)字水平儀在精密制造、機械安裝、半導體設備調(diào)校等領域具有重要作用。日本新瀉精機(Niigataseiki)的DL-S4W和SEM的SELN-001B是兩款高精度電子水平儀,但它們在設計理念、測量能力及適用場景上存在顯著差異。本文將從測量精度、功能特點、使用場景等多個維度進行詳細對比,幫助用戶根據(jù)實際需求選擇合適的設備。
新瀉精機DL-S4W:面向工業(yè)級應用,強調(diào)多功能性,適用于機床調(diào)平、大型設備安裝及平面度檢測等場景。
SEM SELN-001B:專為超高精度需求設計,如半導體制造設備、光學平臺調(diào)校等,強調(diào)微米級測量能力。
坡度測量:±1.999mm/m范圍內(nèi)精度±0.85% rdg,±2mm/m以上時±1.0% rdg。
角度測量:±0.1145°以內(nèi)高精度,±0.1146°以上時精度略降,重復性±0.0003°。
適用場景:適合一般工業(yè)設備調(diào)平,精度足夠但非頂尖水平。
角度精度:±0.001°(17.5μm/m),分辨率達0.0002°,重復性±0.001°以內(nèi)。
優(yōu)勢:在微角度測量上遠超DL-S4W,適合半導體晶圓設備、光學平臺等超精密調(diào)整。
結(jié)論:若追求極限精度,SEM SELN-001B更優(yōu);若需求以常規(guī)工業(yè)應用為主,DL-S4W足夠。
DL-S4W:±5mm/m(±0.286°),覆蓋范圍更廣,適合長距離或大角度調(diào)整。
SELN-001B:±0.3°,范圍較窄,但精度高,適合小范圍精細調(diào)校。
適用差異:
DL-S4W更適合機床、大型鋼結(jié)構(gòu)安裝等需要較大測量范圍的場景。
SELN-001B適用于半導體設備、精密光學調(diào)整等微小角度測量需求。
顯示方式:主機顯示+電腦軟件(可選無線/有線傳輸)。
數(shù)據(jù)傳輸:支持藍牙(30-50m)和RS-232C有線,適合遠程監(jiān)控和數(shù)據(jù)記錄。
優(yōu)勢:適合需要長期數(shù)據(jù)跟蹤的自動化產(chǎn)線或質(zhì)量控制場景。
顯示方式:4.3英寸彩色觸摸屏,模擬氣泡式界面,操作直觀。
數(shù)據(jù)傳輸:未明確無線功能,可能依賴有線連接。
優(yōu)勢:現(xiàn)場調(diào)平更便捷,適合需要快速調(diào)整的精密設備安裝。
結(jié)論:DL-S4W在數(shù)據(jù)記錄和遠程監(jiān)測上更強,SELN-001B在操作直觀性上更優(yōu)。
DL-S4W:158×107×61mm,重2000g,體積較大,適合固定或重型設備使用。
SELN-001B:傳感器僅φ50×19mm,重70g,顯示器392g,超小型設計,適合狹小空間或精密微調(diào)。
適用差異:
DL-S4W適用于工廠車間、大型機械安裝等穩(wěn)定環(huán)境。
SELN-001B更適合半導體設備、實驗室等需要輕量化、高機動性的場景。
DL-S4W:支持干電池、充電電池及AC適配器,適應不同工作環(huán)境。
SELN-001B:僅交流適配器供電(DC6V),依賴固定電源。
結(jié)論:DL-S4W在無穩(wěn)定電源環(huán)境下更具優(yōu)勢,如戶外或臨時作業(yè)場景。
應用領域 | DL-S4W | SELN-001B |
---|---|---|
工業(yè)機械 | 機床調(diào)平、導軌直線度檢測 | 不常用 |
半導體/光學 | 一般適用 | 晶圓設備、光學平臺精密調(diào)整 |
建筑/鋼結(jié)構(gòu) | 大型鋼結(jié)構(gòu)安裝 | 超高層建筑微調(diào) |
實驗室/研發(fā) | 適用 | 高精度實驗設備校準 |
需要較大測量范圍(±0.286°)。
依賴無線數(shù)據(jù)傳輸或電腦端數(shù)據(jù)分析。
工作環(huán)境多變,需電池供電支持。
追求超高精度(±0.001°)。
作業(yè)空間狹小,需超小型傳感器。
應用于半導體、光學或超精密制造領域。
新瀉精機DL-S4W和SEM SELN-001B均為數(shù)字水平儀,但側(cè)重點不同:
DL-S4W 是工業(yè)級多功能選擇,適合常規(guī)機械調(diào)平與數(shù)據(jù)記錄需求。
SELN-001B 是超精密專家級設備,專為半導體、光學等微米級應用優(yōu)化。